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Silicium-Wafer

Silicium-Wafer

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Beschreibung

Für Experimente zur Untersuchung der speziellen Eigenschaften von Halbleitern.

Technische Daten

Durchmesser: 5,08 cm (2 Zoll)
Dicke: 500 µm
Material: Silicium (Czochralski-Kristall)
Oberfläche: einseitig poliert (Single Side Polished)
Leitfähigkeitstyp: p-leitend (Bor-dotiert)
spezifischer Widerstand: 0,001 – 100 Ω · cm

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